Hauptspeichertestauswahl und Loop-Anzahl

Auf der Seite „Test memory“ (Hauptspeicher testen) werden die verfügbaren Hauptspeichertests angezeigt:

• Memory Pattern Test (Hauptspeicher-Mustertest) – prüft den Systemspeicher mit einem vorher festgelegten Muster

• Memory Random Test (Hauptspeicher-Zufallstest) – prüft den Systemspeicher mit zufällig generierten Mustern

  
  
  

• Wählen Sie mit den Nach-oben‑ und Nach-unten-Tasten die Testoptionen „a“ oder „b“ aus.

• Verwenden Sie die Leertaste, um eine Option zu aktivieren oder zu deaktivieren.

• Wählen Sie mit den Nach-links‑ und Nach-rechts-Tasten „Run“ (Ausführen) oder „Cancel“ (Abbrechen) aus.

• Drücken Sie die Eingabetaste, um Ihre Auswahl auszuführen.

  Wenn „Run“ (Ausführen) ausgewählt wurde, wird die Seite „Configure Test Loop“ (Testschleife konfigurieren) angezeigt.

  
  
  
• Geben Sie die Anzahl der Testschleifen für die ausgewählten Tests ein.

  Anmerkung

  Für den „Memory Random Test“ (Hauptspeicher-Zufallstest) gibt dieser Wert die Ausführdauer des Tests in Sekunden an.

• Verwenden Sie die Tabulatortaste, um mit dem Cursor zwischen der Seite für die Schleifeneingabe und der Systemsteuerungsseite zu wechseln.

• Wählen Sie mit den Nach-links‑ und Nach-rechts-Tasten „OK“ oder „Cancel“ (Abbrechen) aus.

• Drücken Sie die Eingabetaste, um die Tests zu starten.

  Die Testergebnisse werden auf der Konsole angezeigt (siehe unten). Drücken Sie die Eingabetaste, um zum Hauptmenü zurückzukehren.