FQXSFMA0027G : เกิด CE แบบ Multi-bit ใน DIMM [arg1] แถวที่ต่างกัน [arg2]
เกิด CE แบบ Multi-bit ใน DIMM [arg1] แถวที่ต่างกัน [arg2]
พารามิเตอร์
ป้ายซิลค์ DIMM, ฐาน 1 [arg1]
ข้อมูล DIMM [arg2] (S/N, FRU และ UDI) เช่น “739E68ED-VC10 FRU 0123456”
ข้อความนี้จะถูกรายงานเมื่อข้อผิดพลาดของฝั่งเดียวกันเกิดขึ้นแล้วหลายครั้งจนถึงเกณฑ์ฝั่ง
ระดับความรุนแรง
คำเตือน
การดำเนินการของผู้ใช้
ทำขั้นตอนต่อไปนี้ให้ครบถ้วน:
- เรียกใช้การทดสอบหน่วยความจำขั้นสูงโดยใช้ XClarity Provisioning Manager คลิก Diagnostics > Run Diagnostics > Memory Test > Advanced Memory Test เพื่อซ่อม DIMM
- เสียบ DIMM ที่บกพร่องใหม่ ซึ่งระบุโดย Lightpath และ/หรือรายการบันทึกเหตุการณ์
- หากปัญหายังคงอยู่ ให้รวบรวมบันทึกข้อมูลการซ่อมบำรุงแล้วติดต่อฝ่ายสนับสนุนของ Lenovo
ส่งคำติชม