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粒子汚染

重要: 浮遊微小粒子 (金属片や微粒子を含む) や反応性ガスは、単独で、あるいは湿気や気温など他の環境要因と組み合わされることで、本書に記載されているデバイスにリスクをもたらす可能性があります。

過剰な微粒子レベルや高濃度の有害ガスによって発生するリスクには、デバイスの誤動作や完全な機能停止を引き起こす可能性のある損傷が含まれます。以下の仕様では、そのような損傷を回避するために微粒子とガスの許容限度について説明しています。ただし、これらの制限値を、絶対的な制限値として見なしたり、使用したりしてはなりません。温度や空気中の水分量など他の多くの要因が、微粒子や環境腐食性物質、ガス状汚染物質の移動に影響を与える可能性があるからです。本書に具体的な制限値が規定されていない場合は、人の健康と安全を守るために、微粒子やガスの濃度を適切なレベルに維持するための措置を実施する必要があります。お客様の環境の微粒子あるいはガスの濃度がデバイスの損傷を引き起こしたと Lenovo が判断した場合、Lenovo は、デバイスまたは部品の修理あるいは交換の条件として、かかる環境汚染を軽減するための適切な是正措置の実施を求める場合があります。かかる是正措置は、お客様の責任で実施していただきます。

表 1. 微粒子およびガスの制限. 微粒子およびガスの制限
汚染物質制限
反応性ガス
ANSI/ISA 71.04-1985 準拠の重大度レベル G11:
  • 銅の反応レベルが 1 カ月あたり 200 オングストローム未満 (Å/月 ≈ 0.0035 μg/cm2-時間の重量増加) である必要があります。2

  • 銀の反応レベルが 1 カ月あたり 200 オングストローム未満 (Å/月 ≈ 0.0035 μg/cm2-時間の重量増加) である必要があります。3

  • ガス腐食性の反応監視は、床から 4 分の 1 および 4 分の 3 のフレーム高さ、または気流速度がより高い場所で、吸気口側のラックの前面の約 5 cm (2 インチ) で行う必要があります。

浮遊微小粒子

データ・センターは、ISO 14644-1 クラス 8 の清潔レベルを満たす必要があります。

エアサイド・エコノマイザーのないデータ・センターの場合、以下のいずれかのろ過方式を選択して、ISO 14644-1 クラス 8 の清潔レベルを満たすことができます。
  • 部屋の空気は、MERV 8 フィルターで継続的にフィルタリングできます。

  • データ・センターに入る空気は、MERV 11 またはできれば MERV 13 フィルターでフィルタリングできます。

エアサイド・エコノマイザーを備えるデータ・センターの場合、ISO クラス 8 の清潔レベルを実現するためのフィルターの選択は、そのデータ・センターに存在する特定の条件によって異なります。

  • 粒子汚染の潮解相対湿度は、60% RH を超えていなければなりません。4

  • データ・センターには、亜鉛ウィスカーがあってはなりません。5

  • 1 ANSI/ISA-71.04-1985。プロセス計測およびシステム制御のための環境条件: 気中浮遊汚染物質。Instrument Society of America, Research Triangle Park, North Carolina, U.S.A.
  • 2 Å/月における腐食生成物の厚みにおける銅腐食の増加率と重量増加率との間の同等性の導出では、Cu2S および Cu2O が均等な割合で増加することを前提とします。
  • 3 Å/月における腐食生成物の厚みにおける銀腐食の増加率と重量増加率との間の同等性の導出では、Ag2S のみが腐食生成物であることを前提とします。
  • 4 粒子汚染の潮解相対湿度とは、水分を吸収した塵埃が、十分に濡れてイオン導電性を持つようになる湿度のことです。
  • 5 表面の異物は、データ・センターの 10 のエリアから、金属スタブの導電粘着テープの直径 1.5 cm のディスクでランダムに収集されます。電子顕微鏡の解析における粘着テープの検査で亜鉛ウィスカーが検出されない場合、データ・センターには亜鉛ウィスカーがないと見なされます。