履歴メトリックの監視
Lenovo XClarity Administrator では、管理対象の ThinkSystem および ThinkAgile デバイスのメトリック・データを定期的に収集するため、ご使用の環境の現在の状態を分析することができます。
始める前に
履歴メトリックは ThinkSystem サーバーでのみサポートされています (SR635、SR645、SR655、および SR665 を除く)。
2019 年 4 月以降にリリースされた XCC ファームウェアを実行する ThinkAgile サーバーおよび ThinkSystem サーバー (SR635 および SR655 を除く) の SSD のみがサポートされます。
オンボード SATA ドライバーはサポートされません。
NVMe ドライブは、NVMe 管理インターフェース (NVMe-MI) 仕様をサポートしている必要があります。
このタスクについて
以下のメトリックが収集されます。
- SSD 監視
このレポート・カードには、次の統計情報とグラフが含まれています。
管理対象デバイス内の SSD の総数 (スコープに基づく)。
分析された SSD の数
分析の対象ではない SSD の数
残り寿命が特定の範囲にある SSD を持つデバイスの数を示す円形グラフ。
残り寿命 <= 10%。残り寿命が 10% 以下の SSD の数
残り寿命 11 ~ 50%。残り寿命が 11 ~ 50% の SSD の数
残り寿命 51 ~ 100%。残り寿命が 50% を超える SSD の数
- システム使用率
このレポート・カードには、次の統計情報とグラフが含まれています。
現在のプロセッサー使用率 (パーセント)
現在のメモリー使用率 (パーセント)
プロセッサーとメモリーの時間経過に伴う使用率を示す折れ線グラフ
- 電力消費量
このレポート・カードには、次の統計情報とグラフが含まれています。
すべての電源の現在の合計電源入力 (ワット)
合計電源入力を時系列で示す折れ線グラフ
- デバイスの温度
このレポート・カードには、次の統計情報とグラフが含まれています。
吸気口の現在の最大温度 (摂氏)
最大温度を時系列で示す折れ線グラフ
円グラフの色分けされた各線、折れ線グラフの各点、各メトリックの横の数字にカーソルを合わせると、メトリックの詳しい情報が表示されます。凡例の色アイコンをクリックすると、グラフのメトリックを表示または非表示にできます。また、リンクの数字またはカードの右上にある「設定」アイコン () のオプションをクリックすると、選択した条件に一致するメトリックを持つすべてのデバイスのリストを表示することもできます。
手順
特定のアクティビティーのフロー・ダイアグラムを表示するには、以下の手順を実行します。
- XClarity Administrator メニュー・バーで、 をクリックして、各メトリック・タイプのレポート・カードが表示された「履歴メトリック」ページを表示します。
- スコープをデバイスのすべてまたは特定のグループに設定します。